相位检测器：中国测试技术研究院2πα、β表面粒子发射率副基准通过与基准双边比对

2πα、2πβ表面粒子发射率副基准，是中国测试技术研究院（以下简称“中测院”）1977年建立，用于α、β放射性平面源活度测量的国家最高标准，也是中测院立足国内技术独立研制，保存并不断提升技术水平的基准之一。该基准复现的量值对医疗卫生、核电、核燃料生产、环境保护以及科学研究具有非常重要的作用。

中测院2πα、2πβ表面粒子发射率副基准在基准技术团队精心维护下，长期稳定性良好，但自1988年以来，没有参加过国内外比对。按照国家市场监督管理总局国家基准管理相关办法要求，中测院和中国计量科学研究院积极协调，根据国际标准ISO8769、7503-1和JJF1702-2018《α、β平面源校准规范》，制定了基准比对计划，历时半年，终于完成了与中国计量科学研究院基准的双边比对。

通过对大量实验数据测量分析，在发射率范围(2000—5000)s-1的比对中：α的En是-0.14%（不确定度0.60%，k=2）；β的En是0.07%（不确定度0.70%，k=2），与中国计量科学研究院基准测量结果在不确定度范围内完全一致，取得了非常满意的结果。

通过这次比对，再次验证了中测院副基准与基准数据的一致性、可靠性，对确保我国电离辐射相关量值的准确、统一，完善和巩固中测院基准国家战略备份地位，具有积极的意义。