qft检测:可靠性筛选度如何计算?

云梦县怀薇温度检测有限公司 行业资讯 2020-03-26 10:03:16 0 温度  筛选  循环  时间  
可靠性筛选度如何计算?

筛选度定义

产品中存在对某一特定筛选敏感的潜在缺陷时,该筛选将该缺陷以故障形式析出的概率(摘自GJB/Z34)。

筛选度计算公式

GJB/Z34介绍了几个常用计算公式,英文原版来自MIL-HDBK-344A。

1、恒定高温筛选强度SS=1-exp [-0.0017(R+0.6)^0.6t]式中:R—高温与室温(一般取25℃)的差值;t—恒定高温持续时间(h);

例:用85℃对某一元器件进行48H的筛选,则其筛选强度为:61.6%=1- EXP[-0.0017*(60+0.6)^0.6*48];注意:这里R=85-25=60,而不是直接用85代入计算;

分析:若上例中如果产品的潜在缺陷对于恒定高温敏感,85度&48小时的测试仅有61.6%的概率暴露出故障,若要提高概率,可以通过增加温度或者增加测试时间。这里算了下,若温度不变,将测试时间增加到100小时可以有91.4%的概率暴露故障,实际情况根据不同需要更改时间或温度;

注意:选用此方案时,关机情况下温度上限不能超过产品的存储温度上限,开机时温度不能超过产品的工作温度上限。

2、温度循环的筛选强度SS=1-exp{-0.0017(R+0.6)0.6[Ln(e+v)]^3N}式中:R—温度循环的变化范围(℃);V—温变率(℃/min);N—温度循环次数,e为自然对数的底数2.71828.....;

例:用60℃到-40℃以10℃/min的速率做15次循环,则对应的筛选强度为:99.87%=1-EXP{-0.0017*(100+0.6)^0.6*[ln(2.71828+10)]^3)*15};分析:上例中如果产品的潜在缺陷对于温度循环敏感,85度&48小时的测试仅有61.6%的概率暴露出故障,若要提高概率,可以通过增加温度或者增加测试时间。这里算了下,若温度不变,将测试时间增加到100小时可以有91.4%的概率暴露故障,实际情况根据不同需要更改时间或温度;

注意:有的推荐每个循环20分钟,这里不建议选取,因为这不是温度冲击测试,通常在做温度循环筛选时,需要在每个温度点保持到产品温度稳定,一般电子产品选择2小时左右,也即一个循环需差不多4小时。

3、随机振动的筛选强度SS=1-exp{-0.0046(Grms)^1.71*t}

4、扫频正弦振动的筛选强度SS=1-exp{-0.000727(Grms)^0.863*t}

5、共振点驻留的筛选强度SS=1-exp{-0.00047(Grms)^0.49*t}3,4,5式中:t—为振动时间(min);Grms---振动G值;

例:用6Grms进行5分钟测试,则对应的筛选强度为:38.89%=1-EXP{-0.0046*6^1.71*5}

注意:对于振动筛选,通常选用随机振动进行筛选。

下图为MIL-HDBK-344A原版公式。

验证筛选有效性

先进行温度循环,接着进行随机振动,施加的应力量级与剔除失效的筛选应力等级相同,不同的是将温度循环时间增加到最大80小时,随机振动时间增加到最大15分钟,若试验样品在80小时内的连续40小时无故障,则认为其通过了温度循环筛选;若试验样品在15分钟内的连续5分钟无故障,则认为其通过了振动筛选。(摘自GJB/1032)

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